AEC-Q系列認證被公認為(wèi)車(chē)規元器(φ≠qì)件(jiàn)通(tōng)用(yòng‍¥↓§)試驗标準。IC設計(jì)企業(yè)要(yào)想進軍汽車(chēΩ<‍)電(diàn)子(zǐ)領域和(hé)汽車(chē)電(diàn)子(zǐ)零部件('​ jiàn)供應鏈，AEC-Q系列就(jiù)是(shì)其中一(yī)個(gè)必≥>★須要(yào)通(tōng)過的(de)驗證。車(chē)用(yòng)電(diàn<ε♥)子(zǐ)主要(yào)依據國(guó)際汽車(chē§₽γ∑)電(diàn)子(zǐ)協會(huì)(€✘α↔Automotive Electronic∑✔s Council，簡稱AEC)作(zuò)為(wèi)車↑β(chē)規驗證标準，包括AEC-Q100(集成電(diàn)路(lù)IC)σ↔、AEC-Q101(離(lí)散組件(jiàn))、AECαπ∏£-Q102(離(lí)散光(guāng)電(diàn)LED)、∑↕AEC-Q103（傳感器(qì)）、AEC-Q104(多(duō)芯片組件(jiàn))、 ±‍βAEC-Q200(被動組件(jiàn))，其測試條件(jiàn)比消費(fèi)型芯δ₹≥>片規範嚴苛。

進入汽車(chē)領域的(de)必經之路(lù)

克萊斯勒、福特和(hé)通(tōng)用(yòng)汽車(chē)為± (wèi)建立一(yī)套通(tōng)用(yòng)的(de€&)零件(jiàn)資質及質量系統标準而設立了(le)汽車(chē)電(diàn)子(zǐ)協會(©>✔huì)（AEC）。盡管AEC-Q系列認證并非強制(z♣≠hì)性認證制(zhì)度，但(dàn)是(shì)現(xiàn)¥‍已被公認為(wèi)車(chē)規元器(qì)件(jiàn)通(tōng)用(yòng✘>☆)測試标準和(hé)進入汽車(chē)領域必經途徑。

進入車(chē)輛(liàng)領域并打入每個(gè)級别（Tier1）的(de)汽±™‍車(chē)電(diàn)子(zǐ)大(dà)廠€∞(chǎng)的(de)供應鏈都(dōu)需要(yào)獲得(de)兩張票(piào)，第一(Ω≤yī)張是(shì)由北(běi)美(měi)汽車(chē)φδ€ 産業(yè)所推的(de)AEC-Q100(集成電(diàn)路(lù)IC)、AEC-Qγλ★101(離(lí)散組件(jiàn))、AE ®↕₩C-Q102(離(lí)散光(guāng)電(diàn)LED)、AEC÷"-Q103（傳感器(qì)）、AEC-Q104(多(duō)芯片組件(ji≤£σàn))、AEC-Q200(被動組件(jiàn))可(kě)靠性标準；第二張門(mén)票(☆←<piào)，則要(yào)符合零失效(Zero Defec∏♦×t)的(de)供應鏈質量管理(lǐ)标準ISO/IATF 16949規範(Quality Man∞π'≤agement System)。

不(bù)同半導體(tǐ)産品有(yǒu)不(bù)同的(de)AEC－Q标準

芯片設計(jì)企業(yè)需以産品分(fēn)類選擇适宜的(de)标€♥準，如(rú)AEC－Q100（IC芯片）、AEC§₹♥－Q101（半導體(tǐ)分(fēn)立器(qì)件(jiànλ£€)）、AEC－102（光(guāng)電(diàn)器(qì)£​≥件(jiàn)）、AEC－Q103（傳感器(q∏÷£ ì)）、AEC－Q104（多(duō)芯片模塊）和(hé)AEC－Q200（被動≤&₹₩元器(qì)件(jiàn)）。要(yào)進入汽車(chē)領域就(jiδ♦$ù)需要(yào)獲得(de)汽車(chē)電(diàn)子(zǐ)協₩‍×↑會(huì)AEC-Q可(kě)靠度标準和(hé)零失效（Z® ero Defect）供應鏈質量管理(lǐ)≈>±标準IATF16949規範。

AEC－Q标準要(yào)求嚴格，認證難度大(dà)

車(chē)規級電(diàn)子(zǐ)元件(jiàn)在環境要(yào)求，抗振動沖擊，可♠∑♣ε(kě)靠性以及一(yī)緻性上(shàng)都(dōu)有(yǒu)↑₹∏♦嚴格要(yào)求，因此需要(yào)使用(yòng)更加先進的(de)工(gōng)藝以及更→€加嚴苛的(de)測試程序。

以AEC－Q100為(wèi)例，規範了✔​↔(le)測試7大(dà)類别：

1）測試群組A（環境壓力加速測試）

2）測試群組B（使用(yòng)壽命模拟測試）

3）測試群組C（封裝組裝整合測試）

4）測試群組D（芯片晶圓可(kě)靠度測試）

5）測試群組E（電(diàn)氣特性确認測試♥♠）

6）測試群組F（瑕疵篩選監控測試）

7）測試群組G（封裝凹陷整合測試）

AEC-Q100認證隻能(néng)在全部通(tōng)過七大(dà)類41次測試之後γ∞才可(kě)以進行(xíng)。AEC-Q系列¥σ​δ的(de)認證、所有(yǒu)試驗的(de)完成平均所♣÷需的(de)最短(duǎn)時(shí)間(jiān)亦約為(wèi)半年(♥♠nián)。

進化(huà)中的(de)AEC-Q标準

AEC-Q100、AEC-Q101和(hé)AEC-Q200這(zhè)三個(gè)标準€↕λ★是(shì)最早制(zhì)訂的(de)、也(yě)最常被引用(yòng)的(de)AEC₽↑₽-Q标準。在AEC網站(zhàn)上(shàng)的(de)σ‍€“文(wén)檔”頁面列出了(le)37個(gè)标準和(hé)子♦★Ω(zǐ)标準，其中七個(gè)被列為(wèi)“新New”或“初始版本Initial re&'>lease”。因此AEC-Q标準正在演變中，尤←♠♥↓其是(shì)高(gāo)級駕駛輔助系統（ADAS）及自(zì)動駕駛新技(jì)術(sh♣£₽ù)的(de)進步，該标準也(yě)會(huì)維持這(zhè)種不(bù)斷更新的(de♥≈)态勢，以滿足新技(jì)術(shù)及新應用(yò®σσ₹ng)的(de)需要(yào)。比如(rú)，專門(mén)為(wèi)光(g©∑uāng)電(diàn)半導體(tǐ)optoelectronics, MEπ£♥•MS傳感器(qì), 以及模組multichip moduδλ"les制(zhì)定的(de)标準：1）↔ε≤AEC-Q102：汽車(chē)應用(yòng)☆★←<的(de)光(guāng)電(diàn)↑&₩半導體(tǐ)應力測試标準2）AEC-Q103：M↔≠EMS壓力傳感器(qì)應力測試标準3）AEC-Q104：汽車(chē)應用(yòng₹£↕)的(de)多(duō)芯片模塊（MCM）♦•應力測試标準

汽車(chē)電(diàn)子(zǐ)與消費(fèi)•× 類對(duì)比

IATF16949、AEC-Q及ISO16750中的(de)很(h‌ ěn)多(duō)測試标準及流程體(tǐ)系都(dōu)是(shì)汽車(chē)行( ♣xíng)業(yè)所獨有(yǒu)的(de)，包括我們之前提到(dào)₩γ♣λ的(de)更改過程和(hé)重新認證過程。下(©$‌xià)面我們就(jiù)從(cóng)另外(wài)幾個(gè)維度‌'比較汽車(chē)電(diàn)器(qì)産品與消費(fèi)類産品✘γ之間(jiān)的(de)區(qū)别。MPS總結出來(lái)的(de)一(yī)個(±σ♣gè)圖更直觀。MPS從(cóng)環境溫度、使用(yòng)壽♠™♣命、失效率、産品生(shēng)命周期等四個(gè)維度對(duì↔$₽λ)消費(fèi)電(diàn)子(zǐ)和(hé)汽車(chē)電(diàn)子(z¥<₹ǐ)進行(xíng)了(le)對(duì)比，其實核心還(hái)是(shì)那(nà)兩點：可(≈✔¶αkě)靠性和(hé)長(cháng)壽命。

如(rú)果我們再從(cóng)更廣的(de)維σ¶✘£度對(duì)比一(yī)下(xià)，會(huì)更有(yǒ§®×u)助于理(lǐ)解汽車(chē)級标準的(de)嚴苛：

這(zhè)張圖從(cóng)器(qì)件(jiàn)的(d&₩↓→e)生(shēng)産、流程的(de)控制(zhì)、供應鏈（Fab和(hé↔≤)Assembly）到(dào)認證标準維度對(duì)比βΩ¥φ了(le)消費(fèi)級、工(gōng)業(yè)級和(hé)汽車♣πγ€(chē)級的(de)差異，看(kàn)了(le)這(zhè)張圖就(jiù)更能(né™‍ng)理(lǐ)解“車(chē)規級”标準的(de)嚴苛。因此，苛刻的(de)車(chē☆φ)規級标準是(shì)全方位和(hé)多(duō)維度的(de)，唯有(yǒu >↕)這(zhè)樣才能(néng)夠确保上(shàng)百個(gè)ECU÷Ω​≥和(hé)上(shàng)萬個(gè)電(diàn)子(zǐ)元器(↑↕♥qì)件(jiàn)構成的(de)汽車(chē)在這(zhè)一&∞(yī)過程中最終實現(xiàn)長(chá§↑ng)生(shēng)命周期服役和(hé)高(gāo)可(kě)靠性。

漫談汽車(chē)電(diàn)子(zǐ✔​)中的(de)“車(chē)規級”要(yào)求

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